AFM Multimode Nanoscope IIIA (Bruker

Descripción de la infraestructura: Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

Responsables: Manuel Domínguez de la Vega.

Ubicación: IMEYMAT. Laboratorio AFM/STM.

Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos:

Topografía en modo contacto y contacto intermitente para la obtención de imágenes 3D de superficies mediante microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopía de fuerza magnética (MFM) y microscopía térmica de barrido (SThM), con resolución nanométrica (hasta 5 um en resolución vertical y hasta 100 um x 100 um en cuanto a tamaño del barrido). Determinación de rugosidad de superficies en este rango dimensional. Determinación de tamaño y forma de estructuras de tamaño nanométrico, con límite inferior determinado por el tamaño de la sonda empleada (mínimo 2 nm). Determinación y localización de objetos nanométricos magnéticos situados sobre una superficie de un material no magnético, mediante MFM. Determinación de tamaño y forma de regiones de diferente conductividad térmica en una superficie de baja rugosidad, mienta SThM. Además, se pueden emplear estas técnicas para el estudio de sistemas biológicos (células, estructuras celulares, macromoléculas, etc.) siempre que estos entes puedan ser depositados sobre un soporte plano (vidrio, mica, etc.) y que su tamaño no exceda los límites del equipo.

Estación de Haces Focalizados FIB –FEI QUANTA 3D

Descripción de la infraestructura: Microscopio SEM con cañón de haces de iones focalizados.

Responsables: Sergio Ignacio Molina Rubio.

Ubicación: Módulo 9A del IMEYMAT.

Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos:

• Preparación de muestras electrón-transparentes para microscopía electrónica de materiales y dispositivos.
• Nano-mecanizado mediante FIB de materiales y dispositivos.
• Preparación de muestras en forma de nano-agujas para análisis mediante tomografía electrónica y de sonda atómica (atom probe tomography), así como para otras aplicaciones que requieran esta geometría de muestra.
• Manipulación de muestras de distintos materiales a escalo micro y nanométrica, incluyendo cortes en el material por ataque iónico, deposición de carbono o platino, transferencia de porciones de material a rejillas, etc.
• Análisis de materiales mediante electrones secundarios y con el haz de iones.
• Análisis 3D por haces de iones de distribución de precipitados u otras inclusiones en materiales y dispositivos mediante reconstrucción tomográfica.
• Otras operaciones específicas que requieran el uso de haces de iones focalizados, definidas específicamente por el peticionario del servicio.

Microscopio Electroquímico de Barrido –SENSOLITICS.

Descripción de la infraestructura: Equipo electroquímico multifuncional para aplicaciones en el campo de la nanotecnología. Se adquirió en la convocataoria FEDER 2008-2011. Código: UNCA08-1E-048.

Responsables: José Mª Palacios Santander.

Ubicación: Laboratorio de Instrumentación 2. Departamento de Química Analítica. Facultad de Ciencias.

Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos: La microscopía electroquímica de barrido (Scanning Electrochemical Microscopy, SECM) es una muy novedosa y avanzada técnica electroquímica con amplias aplicaciones en la determinación de cinéticas de transferencia de carga, visualización in-situ de la topografía de superficies que están inmersas en electrolitos, variaciones en la reactividad química localizadas espacialmente, así como fabricación de microestructuras en interfases o superficies. Lo que distingue a la SECM de otras técnicas microscópicas es que se utilizan ultramicroelectrodos amperométricos o potenciométricos como sondas de escaneo, que interactúan electroquímicamente sobre la muestra o que actúan como soportes de inmovilización de las especies a estudiar.

La SECM posee una excepcional selectividad química y, por ello, es una excelente herramienta para examinar propiedades y reacciones (electro)químicas que ocurren frecuentemente en interfases entre dos regiones; la técnica permite investigar los caminos y velocidades de tales reacciones con resolución espacial, lo que abre mucho el campo de sus aplicaciones que son ya muy numerosas y aumentan continuamente. Algunos ejemplos de las posibilidades de aplicación son: estudios de cinéticas de reacción; visualización de la actividad de enzimas inmovilizados sobre microestructuras y fabricación de biosensores; reacciones redox en baterías; estudio de fenómenos de corrosión (metal/aire o metal/agua marina); flujo de iones a través de los poros de membranas semipermeables; fotosíntesis en la membrana celular o monitoreo de la actividad biológica en células vivas; fabricación y caracterización de nanoelectrodos; estudio de la disolución pH dependiente de mediadores electrónicos inmovilizados; control de calidad de conjuntos de ultramicroelectrodos; detección espacialmente resuelta de la secreción de neurotransmisores por célul as individuales; deposición lateral con alta resolución de polipirrol como medio para la construcción de transistores orgánicos.

El equipo está constituido por los siguientes elementos:
1) Microscopio básico electroquímico computerizado de exploración automática con dispositivos para aumentar la calidad de imagen mediante un sistema de posicionamiento piezoeléctrico, y para separar con precisión la información topográfica de la electroquímica.
2) Potenciostato auxiliar con stand, interfase para PC y software de control.

Servicios Ofertados:
1) Preparación de la muestra.
2) Caracterización de muestras mediante la obtención del mapa electroquímico de superficies de muestras conductoras y aislantes

Perfilómetro Óptico Multimodo, ZETA, ZETA300

Descripción de la infraestructura: Microscopio óptico 3D multimodo. Modos de medida: Confocal, Interferométrica, Multisuperficie, Texturas (QDIC/Nomarski), Reflectometría. Resolución hasta 1 nm (dependiendo de la técnica de medida). Incluye reflectómetro para medidas de espesores de capas delgadas

Responsables: Juan Mª González Leal.

Ubicación: Módulo M1 IMEYMAT.

Servicios que se ofertan actualmente y posibles aplicaciones en otros campos:

Medida de espesores de capas (Incluido multicapas). Medidas de volumen y área de incrustaciones, poros o cualquier característica superficial. Medida de rugosidades. Medida de texturas. Análisis de frecuencias espaciales. Imágenes 3D en color real de las superficies y ficheros CAD.